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中为ZWL-S6超高精度光谱辐射计,全球同步发布
来源:http://www.gy-pt.com 责任编辑:www.ag88.com 更新日期:2018-09-14 12:39
中为ZWL-S6超高精度光谱辐射计,全球同步发布 跟着 LED 工业日益老练,世界、国内客户 LED产品 需求量的添加,消费者关于LED产品质量要求也越来越高,不只着重发光功率,并且均匀性、一致性、显色性等目标也备受重视。无论是在LED背光范畴,仍是在LED照明范

  中为ZWL-S6超高精度光谱辐射计,全球同步发布

   跟着LED工业日益老练,世界、国内客户LED产品需求量的添加,消费者关于LED产品质量要求也越来越高,不只着重发光功率,并且均匀性、一致性、显色性等目标也备受重视。无论是在LED背光范畴,仍是在LED照明范畴,都需求更好光学量测设备,以处理量测方面的使用需求。此前,灵敏度高、丈量精度精确,契合世界规范的高端检测设备,一直是国外设备处于主导地位。国内LED企业,为了出产出质量杰出的LED产品,一套高端检测设备需求投入几十万乃至上百万,但是在售后的保证方面,因为时空间隔,却并不能得到最快的呼应。

   面临这种状况,LED业界关于具有世界水准、契合世界规范的国产高端检测设备充溢等待。根据以上的种种原因,杭州中为光电技能股份有限公司(ZVISION○R)作为世界半导体照明装备范畴领军企业之一,携手美国海洋光学(Ocean Optics),成功研宣布全球抢先的ZWL-S6超高精度光谱辐射计,初次真实打破了在高端测验机范畴,国外设备厂商独占的局势。将在满意客户的高端检测需求的前提下,大幅下降设备本钱,一起以中为光电强壮的效劳实力为支撑,全力为我国LED职业加油!中为光电将于2011年8月30日在上海高工G20-LED峰会携手美国海洋光学(Ocean Optics)进行我国LED半导体装备范畴设备初次全球同步发布!中为光电基础研究部总监殷源博士将在会议上共享中为光电(ZVISION○R)关于LED检测的最新观念与主张。

   高端使用环境首选中为ZWL-S6超高精度光谱辐射计体系:

   ZWL-S6超高精度光谱辐射计支撑世界电工委员会(IEC)、世界照明委员会(CIE)、美国能源之星(Energy Star)、我国计量科学研究院(NIM)等威望检测规范;搭载中为F4M专利技能积分球、杰出的驱动电源、极致专业的夹具、威望的规范光源等尖端部件,可组成最高端的ZWL-3140Q超高精度色彩丈量体系,可以有用的满意职业检测组织、企业实验室等高端使用环境关于光谱检测精度、安稳性、量测规模、测验速度、外观规划、软件功用等归纳功用的高要求。一起,可以有用的下降高端设备的保有本钱,为我国LED职业的开展奉献一份力气!

   ZWL-S6超高精度光谱辐射计简介:

   ZWL-S6超高精度光谱辐射计运用中为自主的中心算法及先进的体系规划,保证了辐射计的全体功用目标,集成中为F4M专利技能积分球、杰出的驱动电源、极致专业的夹具、威望的规范光源等尖端部件,打造成中为ZWL-3140Q超高精度色彩丈量体系。其检测精度、安稳度、丈量规模、测验速度、软件功用、外观规划等目标均到达世界尖端水平,真实打破了国外设备厂商在高端测验范畴的独占局势。

   ZWL-S6超高精度光谱辐射计内置有世界顶尖光谱仪模块,该模块由半导体照明CCD丈量中心技能发明者、光纤光谱仪在半导体照明测验范畴使用最广的中为(ZVISION○R)公司与其战略合作伙伴美国海洋光学(Ocean Optics)一起研发。

  超高检测精度:

   超低的暗电流,信噪比高达1000:1,色品坐标(x,y)最高精度可达0.0010以内;

   超强安稳性:

   探测器选用先进的内部智能恒温技能,大大下降了环境温度改变对丈量成果的影响;
 首创恒温制冷的高频信号采集卡,有用的提高检测安稳性,色品坐标(x,y)安稳度可达0.0005以内;

   超宽丈量规模:

   选用薄型背照式(Back-thinned)面阵CCD探测器。其二维像素阵列有用接纳波长规模在200~1100nm的光信号,可完成1300K--25000K的高精度色温测验;

   动态规模(指仪器测定可用的最高吸光度与最低能检测到的吸光度之比。动态规模越大,可用于检测样品的线性规模也越宽)高达25000:1,可完成1.0×10-2 lm—2.0×105 lm 的光源测验;
超快测验速度:

   装备二维面阵CCD探测器,量子功率达90%,有用接纳入射光,最大化的提高了体系的测验灵敏度,CCD最快呼应时刻可达1ms;

 
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